沈阳天星参加2013年美国芝加哥国际质量检测设备仪器展圆满成功_沈阳天星试验仪器股份有限公司
沈阳天星参加2013年美国芝加哥国际质量检测设备仪器展圆满成功

展会名称:2013年美国芝加哥国际质量检测设备仪器展

展览会时间:2013年9月10-12日

展览会地点:美国芝加哥麦考米克展览中心

沈阳天星试验仪器有限公司展位:E3馆,展位号E3F4,两个标准展位,面积20平方米。

沈阳天星试验仪器有限公司参展展品:便携式硬度计。

展会一览:

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基本概况:
  2013 年美国芝加哥国际质量检测设备仪器展览会是美国该地区的工业交易市场,也是北美地区规模最大、涉及范围最广的博览会。共有来自世界各地的4848多家公司参与了这个展会,到会人数约60000人次。美国芝加哥展览会展品范围及其广泛,几乎涵盖了工业制造流程的各个方面。
    展品范围:自动测量设备,管径测量,三坐标测量机和数字多用表、数据采集设备、电子测试与检验设备、手动测量设备、线性检测设备、原材料检测设备、质量检测软件 等相关设备
    行业领域:汽车、航天航空、运输、化学制药、计算机电子工业、电子设备,电子器械,电子零件、金属加工制造业、食品饮料工业、机械工业、医疗手术器械、造纸业及相关行业、原油及煤炭行业、制药工业、塑料橡胶工业、初级金属检测等。


天星参展产品:
    1.PHB3000   液压式布氏硬度计
            2.PHBR-200  磁力式数显布洛硬度计
          3.PHBR-100  磁力式布洛硬度计
            4.PHB-750    磁力式液压布氏硬度计
            5.PHR-200    磁力式数显洛氏硬度计
            6.PHB-10      布氏硬度压痕自动测量系统
            7.PHB-1        锤击式剪销布氏硬度计
    8.W-20系列   韦氏硬度计
            9.PHR-4-3    C型洛式硬度计
            10.PHR-1     小型洛氏硬度计

 




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